半導体・ICの解析装置って何があるの?未開封OK!外観・非破壊の解析機器まとめ

半導体・ICの解析装置って種類が多すぎて分からない!

『半導体が壊れた』『動作がおかしい』『でも、原因や不良箇所が分からない!』そんなときに使われるのがIC解析装置なんですが、色々と種類が多くどんなものなのか分かりにくいですよね。

と、言うわけでどんな解析装置があるのかまとめてみました!

解析方法によっては半導体パッケージの開封が必要なことも。でも今回は開封しなくてもOKな外観・非破壊解析装置についてお届けします。

未開封OK!外観・非破壊解析装置外観を調べるもの

完全にパッケージの外観だけを調べる装置です。

顕微鏡/マイクロスコープ/Microscope

皆さんご存知、顕微鏡(けんびきょう)です。小さいモノを拡大して見ることができるので、拡大鏡(かくだいきょう)とも言います。

どんどん小型化が進む半導体。もはや肉眼で観察できる不具合なんか限られています。半導体の観察は顕微鏡で見るのが常識ですぜ☆

最近じゃネット通販でも顕微鏡が買えちゃうんですね。しかも1,000倍って…すごい

顕微鏡

顕微鏡セット 倍率1000倍 マイクロスコープ 800‐Ultimate

未開封OK!外観・非破壊解析装置電気回路を調べるもの

見た目じゃなくて、電気回路を調べる装置です。不具合が起こったらまず最初に確認するのが、外観とこの電気回路です。

サーキットテスター/Circuit Tester

テスターとも言いますね。アナログとデジタルがあってそれぞれ使い勝手が違います。アナログだと、電圧や電流の変化が針の振り方で見れるんですけど、デジタルだと値の変化がわかりづらくなっています。

とは言ってもデジタルテスターなら、その名の通り値がしっかりデジタルで見ることができるので、ほとんど今はデジタルが主流です。

SANWA デジタルマルチメータ バックライト搭載 CD771

三和電気計器 アナログマルチテスタ 自動車測定対応 TA-55

カーブトレーサー/Curve Tracer

電気的な動き、特に電流と電圧の関係(I-V特性)を調べるのに使います。

横軸 電圧:V、縦軸 電流:I を表示して、電圧ごとの電流変化を見ていきます。回路上のオープン・ショート・抵抗特性・ダイオード特性など、正しい数値が表示されるかどうか回路図と合わせて確認します。

未開封OK!外観・非破壊解析装置内部を調べるもの

パッケージの開封はとても大変。強い酸性の液体で少しづつ溶かしていくんですが、とっても危険だし手間がかかるんですよね~。

そんなことをしなくてもある程度内部の様子が分かる、便利な解析装置がこちら↓

X線透視システム/Xray Inspection system

病院でもよく使われるX線ですが、半導体の内部がどうなっているのかX線(放射線)で見ることができます。

病院のX線検査装置と違う点はX線+顕微鏡がついているという点です。半導体は非常に小さいので、顕微鏡が無いと何を映してるか分かったもんじゃないんですよ。

SAT/Scanning Acoustic Tomograph/超音波映像装置

「材料は音波反射の特性がそれぞれ違う」という原理を活かし、内部構造を調べて映像を出力させる機械です。

SAM/Scanning Acoustic Microscope/超音波顕微鏡

「材料は音波反射の特性がそれぞれ違う」という原理を活かし、内部の空洞を調べて顕微鏡で微細な構造解析をするという装置です。

SATと違うのは『空洞を調べる・さらに顕微鏡で拡大できる』という点が大きな違いです。

C SAM/Constant-depth mode SAM/超音波顕微鏡

SAMに比べて深いところまで解析できる装置です。

シェアする

  • このエントリーをはてなブックマークに追加